扫描探针显微镜

发布时间:2016-05-16作者:设置

 

 

一、仪器名称:扫描探针显微镜

规格型号:Mutimode 8 Nanoscope V system

生产厂商:美国Bruker公司(Veeco)

二、仪器性能

主要技术参数:

(1) 率:XY轴精度1nmZ轴精度0.1nm

(2) 噪声水平:<0.3 Å

(3) 扫描范围:0.4µm x 0.4µm x 0.4µm10µm x 10µm x 2.5µm125µm x 125µm x 5µm (xyz)

主要用途:能够在大气及液体环境下准确地观测样品表面纳米尺度的三维形貌;同时可对样品表面物理化学特性进行研究,如表面组分区别、温度、表面电势、磁场力、静电力、摩擦力和其他表面力以及电化学相互作用力的测量;同时可以对样品表面进行纳米尺度的刻蚀和加工。

三、安放地点:实验楼A 110

四、收费标准(试行) 普通样品:350/小时;液相扫描:450/小时,EFM, KFMMFMSTM 500/小时(特殊样品,价格另议)

五、样品要求样品尺寸:直径<10mm,厚度<3mm

六、联系方式

负责人:任晓荣

电 话:692407

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